涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

N型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。用途见上。有一个F探头的磁性测厚仪；

FN是指带有两个探头的磁性和涡流两用型二合一涂层测厚仪。

可选配置F400、F05、F1、F3 、高温F3、F1/90°、F10、N1、N400、N3、N05等各种探头 量程由探头决定。适用于所有种类的涂镀层 不同的涂镀层选择不同探头1测量速度快,精度高；不受温度变化影响。