覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
一个探头具有磁性、涡流两种原理,既可以测量钢铁类磁性材料的涂镀层,又可以测量铜、铝非磁性材料的涂镀层。自动转换,不需要更换探头,无须校准。
可选配置F400、F05、F1、F3 、高温F3、F1/90°、F10、N1、N400、N3、N05等各种探头 量程由探头决定。适用于所有种类的涂镀层 不同的涂镀层选择不同探头1测量速度快,精度高;不受温度变化影响。