X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

一个探头具有磁性、涡流两种原理，既可以测量钢铁类磁性材料的涂镀层，又可以测量铜、铝非磁性材料的涂镀层。自动转换，不需要更换探头，无须校准。

可选配置F400、F05、F1、F3 、高温F3、F1/90°、F10、N1、N400、N3、N05等各种探头 量程由探头决定。适用于所有种类的涂镀层 不同的涂镀层选择不同探头1测量速度快,精度高；不受温度变化影响。